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隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統（超聲法）
簡(jiǎn)要描述：隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統（超聲法）儀器在非接觸狀態(tài)下可同時(shí)測量中心厚度和矢高用于基弧計算。特制的底座和定位夾具可使隱形眼鏡平穩準確置于測量支座上。
城 市 ：上海市- 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間：2023-06-29
- 訪(fǎng) 問(wèn) 量：2089
產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 綜合 |
隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統（超聲法）整個(gè)測量腔體包含一個(gè)塑料水槽和鏡片支座，鏡片支座的直徑為已知，超聲探頭從鏡片支座下方穿入，對準鏡片內表面，其發(fā)出聚焦型聲波的焦點(diǎn)位于支架中心。鏡片支座上覆蓋有一層厚度非常小的塑料薄膜，塑料水槽內注滿(mǎn)鹽溶液。只要將被測角膜接觸鏡凹面朝下放到支座上，塑料薄膜就成為矢高的基準位置。
測量時(shí)，超聲探頭產(chǎn)生一個(gè)穿透鹽溶液的銳聚焦超聲波能量短脈沖，這個(gè)脈沖的部分能量將從塑料薄膜，鏡片的內表面、鏡片外表面，和鹽溶液表面反射回探頭。此時(shí)測厚儀就會(huì )記錄下整個(gè)回波，然后非常精確的測量*次回波和第二次回波間隔時(shí)間，以及第二次回波和第三次回波之間時(shí)間間隔。（第四次回波對應的是鹽溶液表面的反射，此處忽略。）
*次回波和第二次回波之間的時(shí)間間隔與塑料薄膜和鏡片內表面之間的距離（即矢高）成正比的，第二次回波和第三次回波之間的時(shí)間間隔對應的就是鏡片的厚度?？梢酝ㄟ^(guò)公式計算出鏡片的矢高和厚度。
而基弧的曲率半徑則可以由公式計算得到。
此處即可得到1-矢高，2-中心厚度，R-基弧曲率半徑
校準：
任何超聲測量設備的精度都取決于校準。對于角膜接觸鏡的測量，其精度取決于聲波在鹽溶液中的傳輸速度和特定的鏡片材料。請注意鹽溶液中的聲波速度會(huì )隨著(zhù)溫度和濃度而顯著(zhù)變化，且鏡片中的聲波速度也會(huì )受溫度和鏡片成份的影響。
建議的校準方法是在恒溫下測量一個(gè)已知基弧和中心厚度的樣品，然后校準超聲測厚儀的聲波。在校準良好的情況下，矢高和中心厚度的誤差范圍可以控制在+/- 0.01 mm。
隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統（超聲法）產(chǎn)品構成
* 穿透性高精度多層超聲測厚儀
* 微型水浸式聚焦探頭和連接器
* 多層測量軟件（不含PC）
* 測量腔：含亞克力測量室和鏡片支座
* 夾具系統：含可上下調節的定位裝置及四個(gè)夾具
* 夾具包含：通用型傾斜夾具（黑色+白色），快速夾具（黑色+白色）
隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統（超聲法）主要技術(shù)參數
* 厚度測量范圍：0.08~635mm（根據材料和探頭配置而定）
* 材料聲速范圍：0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
* 分辨率：低分辨率0.1mm，標準分辨率0.01mm，高分辨率（可選）0.001mm
* 探頭頻率范圍：標準：2.0 MHz～30 MHz（–3 dB）
* 檢波：全波、RF波、正半波、負半波
* 測量層數：4層（多層軟件選項）
* 具有差分模式和縮減率模式
* 時(shí)基B掃描模式，每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數
* 帶有數字式過(guò)濾器的高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)
* 輸出接口：MicroSD，USB，RS232，VGA
* 內置數據記錄：475000個(gè)厚度測量讀數，或20000個(gè)帶厚度值的波形
* 防護性能：IP67
* 電源：AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節AA輔助電池。
* 夾具高度可調范圍：0~15mm
* 快速夾具孔徑：15mm臺階孔
